S5700 Silicon

小体积、高性能

干硅的控制是离型膜质量的关键指标之一

需要专业的测试设备才能测试涂布量,X射线荧光光谱仪(XRF)

硅油涂布量直接影响到离型(剥离)性能。较高的涂布量,能够密实地将原纸覆盖,保证硅油均匀分布。而较低的硅油涂布量,则容易出现

漏涂等现象,导致剥离不良。

硅油涂布量:离型剂涂布在材料上的Si含量单位是g/m2。

特点
技术规格

干硅的控制是离型膜质量的关键指标之一


离型膜,硅油纸,离型纸,防粘纸,主要起到隔离带有黏性的物体的作用,在使用时一般·需要被剥离、扔弃,现在应用得较广的主要是

胶带或带胶制品的载体,在食品、医疗卫生行业也有应用。


硅油涂布量直接影响到离型(剥离)性能。较高的涂布量,能够密实地将原纸覆盖,保证硅油均匀分布。而较低的硅油涂布量,则容易出现

漏涂等现象,导致剥离不良。



S5700 Silicon

分析元素

Si

X射线管

≧30000小时

探测器

电致冷SDD探测器 125±5eV

测试时间

30s

摄像定位

1200万

重量

38kg  

尺寸

450mm ×   400mm × 360mm

集成工业

计算机

Intel(R)   cpu i5,内存8G 操作系统 Window10

显示

显示器/Display:24寸显示屏

数据存储

250GB

辐射防护标准

符合GB18871-2002 GBZ115-2002标准

*技术规格会随时更改,恕不通知。所有产品名称为产品拥有者的商标或注册商标

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